OLYMPUS/M2008延迟块探头

       Sonopen探头装有一个可更换式延迟块，其接触面积非常小。这种探头可在测量涡轮叶片、塑料瓶颈的螺纹及塑料容器内圆角等应用中进行可靠的厚度测量。还可提供高温Sonopen延迟块。
　　频率
　　标称 晶片尺寸
　　探头 工件编号
　　MHz
　　英寸
　　毫米
　　平直型 手柄
　　直角型 手柄
　　45° 手柄
　　15
　　0.125
　　3
　　V260-SM U8411019
　　V260-RM U8411018
　　V260-45 U8411017
　　* 高温延迟可在温度*为175°C的情况下使用
　　Microscan延迟块探头可在测量很薄材料，温度很高，或需要很高厚度分辨率的应用中，发挥*的性能。
　　RM = 直角型Microdot：SM = 平直型Microdot：SB = 平直型BNC； † 高穿透性探头； * 使用托架，P/C 2133
　　标准型延迟块
　　标准型延迟块用于许多应用。在某些特殊情况下，如：表面温度很高，材料的曲率较大，或检测区域难以接触等，可能需要使用特殊的延迟块。
　　* 确切的范围取决于材料声速、探头频率、工件的几何形状和表面条件。
　　高温延迟块 高温延迟块的作用是在被测样件的高温表面与探头晶片之间起到保护性缓冲作用。在高温下，建议使用间歇性接触方式，以保护探头免受热损伤。
　　高温延迟