易科泰样芯（芯体）扫描分析技术

       ·高分辨率样芯（芯体）扫描成像分析，全面反映二维密度/质地和化学成分分布
　　·岩矿样芯、海洋湖泊沉积样芯、树木年轮样芯等
　　·RGB 扫描成像与CT 技术密度扫描成像
　　·高光谱扫描成像分析
　　·XRF 元素扫描分析
　　·高通量、非损伤
　　·可选配LIBS 元素分析
　　1、CoreScanner 样芯密度与元素扫描分析系统
　　样芯CT 扫描成像、可见光（RGB）成像、μXRF 元素扫描分析、磁化率扫描分析，用于地质岩矿样芯、沉积样芯多功能扫描成像分析。

　　2、MultiScanner 年轮分析系统——年轮密度 CT与元素分析
　　MultiScanner 在世界上同时采用了XRF 元素分析技术和X-射线成像技术（CT）， 可用于树木、湖海沉积物、泥炭等样品的密度扫描成像分析和元素分析，高分辨率、高灵敏度，可测量的元素有Al、Si、S、Cl、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、As、Hg、Pb 等，其中许多可测至痕量水平以下，对灵敏度和分辨率要求较高的研究尤其适合

　　3、XRF Scanner 岩矿样芯元素扫描分析系统
　　采用XRF、数字 X-射线密度成像和高分辨率数字光学成像技术，非破坏性测量，获得样品高分辨率的数码图像，然后利用系统软件对所得图像和元素信息进行分析，可对样芯一次性扫描分析从 Na 到 U 的所有元素及 REE（稀土元素） 浓度及分布。

　　4、SisuCHEMA 高光谱成像分析系统
　　包括推扫平台和高光谱成像仪，可对各种材料包括岩矿材料、沉积样体、植物材料、塑料等进行高光谱成像分析，样品可达 200x300x45mm，分辨率可达 30 微米。

　　5、SisuSCS 单样芯高光谱成像扫描分析系统
　　可对单个岩矿样芯、沉积样芯或其它芯体材料进行高光谱成像分析（VNIR 可见光近红外波段或SWIR 短波红外波段），芯体大小可达 130x1500x75mm

　　6、SisuROCK 多样芯高通量高光谱成像扫描分析系统
　　集高分辨率可见光、VISIR（可见光近红外波段）、SWIR（短波红外）、MWIR（中波红外）及LWIR（长波红外）高光谱成像分析技术，高通量、非损伤岩矿分析工作站

　　7、SpectraScan 高光谱成像扫描分析系统
　　Specim 高光谱成像技术、易科泰集成高光谱成像自动推扫平台，客户定制、高性价比， 可选配RGB 成像、红外热成像、中波红外成像、短波红外成像、多光谱成像等，用于岩矿芯体分析、年轮分析、植物生化分析、材料品质检测、食品检测等，可选配LIBS 元素分析系统，还可客户定制原位（in-situ）高光谱扫描分析系统。

　　高光谱成像技术、XRF技术、LIBS技术，易科泰生态技术公司提供样芯扫描成像分析全面解决方案！

　　综合利用高光谱成像技术、XRF 样芯扫描分析技术、LIBS 技术应用案例（引自：Isabel Cecilia Contreras Acosta,etc. A Machine Learning Framework for Drill-Core Mineral Mapping Using Hyperspectral and High-resolution Mineralogical Data Fusion. 2019 IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing）

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