XRF镀层分析仪Thick800A

       XRF镀层分析仪Thick800A介绍：
　　XRF镀层分析仪Thick800A是江苏天瑞仪器股份有限公司研发生产销售XRF镀层分析仪Thick800A，台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。X射线的能量穿过金属镀层的同时，金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理，我们设计出：膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪，又称金属涂镀层厚度测量仪，其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪，也是薄膜表层金属元素分析仪，因响应环保工艺准则，故市场上*普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。

　　Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。 性能特点 满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求 高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm 采用高度定位激光，可自动定位测试高度 定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐 鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点 高分辨率探头使分析结果更加* 良好的射线屏蔽作用 测试口高度敏感性传感器保护

　　技术指标 型号：Thick 800A 元素分析范围从硫(S)到铀（U）。 同时可以分析30种以上元素，五层镀层。 分析含量一般为ppm到99.9% 。 镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有不同） 任意多个可选择的分析和识别模型。 相互独立的基体效应校正模型。 多变量非线性回收程序 度适应范围为15℃至30℃。 电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm 重量：90kg 标准配置 开放式样品腔。 精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。 双激光定位装置。 铅玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探测器。 信号检测电子电路。 高低压电源。 X光管。 高度传感器 保护传感器 计算机及喷墨打印机 应用领域 黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测. 金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。 主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
　　测试实例
　　镀镍器件是比较常见的电镀器件，其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。 以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试，其测试位置如图。

　　天瑞仪器作为一个集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供为一身的综合性仪器供应厂商，一直以来严格遵循“360°服务”的客户服务理念，以提高顾客满意度为根本目标，从服务力量、服务流程、服务内容等各个方面为客户提供的服务。 我公司为客户提供技术咨询、方案设计、技术交流、产品制造、系统集成、现场勘察、工程实施、技术培训、服务热线、故障处理、回访、巡检等全过程、、全系列的服务。这些不仅让客户体验到天瑞仪器高质量的服务，更为客户创造了更高的价值。 “快速、准确、到位”的服务 *短交货时间 *快安装 *短维修周期 *长保修期 *个性化服务 *低维护费用