汕1.25P13*13 K1斜探头

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　　产品介绍
　　进行斜射探伤用的探头，主要用于横波探伤。斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插座等组成。
　　所有试块都使用可追溯到美国*标准及技术研究所（NIST）的测量设备进行尺寸检查。经常求购的校准试块列于下表中。
　　类型
　　工件编号
　　说明
　　盒子
　　ASTM E164校准
　　IIW型试块
　　TB1054-X
　　公制单位
　　F129
　　TB1137-X
　　公制单位试块，带有机玻璃塞
　　F129
　　美国空军 IIW-2校准试块
　　TB5939-X
　　IIW型试块，根据《美国空军NDI手册T.O.33B -1-1》。包含用于距离校准的半径为2英寸和4英寸的切口。带有3号、5号和8号横通孔，以及2英寸孔的距离校准标记。
　　F129
　　RC AWS试块
　　TB7543-X
　　根据AWS和AASHTO的要求，确定角度声束探头的分辨率能力。
　　F157
　　SC AWS试块
　　TB7545-X
　　根据AWS和AASHTO的要求，进行灵敏度和折射角度的校准。
　　F158
　　DC AWS试块
　　TB7547-X
　　根据AWS和AASHTO的要求，为角度声束探头进行距离和声束步进的校准。
　　F159
　　DSC AWS试块
　　TB7549-X
　　根据AWS和AASHTO的要求，为角度声束探头进行距离、灵敏度、折射角度及声束步进的校准。
　　F160
　　DS AWS试块
　　TB7551-X
　　根据AWS和AASHTO的要求，用于水平线性和dB精度程序的校准试块。
　　F161
　　30FBH分辨率参考试块
　　TB7160-X
　　评价UT设备的近表面分辨率和缺陷尺寸/深度的灵敏度。带有3号、5号和8号ASTM平底孔，位于从0.050英寸到1.250英寸之间的10个金属行程距离处。
　　包含
　　NAVSHIPS试块
　　TB7567-X
　　带有6个3号横通孔。用于根据NAVSHIPS 0900-006-3010标准进行距离波幅校准。
　　F162
　　ASTM E164 MAB试块
　　TB7150-X
　　微型角度声束（ROMPAS）试块。用于距离、声束步进、折射角度及灵敏度的校准。厚度为1英寸。
　　F197
　　ISO 7963钢制
　　TB1065-X
　　微型角度声束试块。用于距离、声束步进、折射角度和灵敏度的校准。厚度为25毫米。
　　F197
　　将工件编号中的“X”替换为以下所列试块材料对应的编号：1 = 1018钢，2 = 4340钢，4 = 7075-T6铝，5 = 304不锈钢，8 = 6-4钛
　　超声波的发射/接收由压电晶片完成。
　　斜块的作用是实现波型的转换，当入射角（α）在*临界角和第二临界角之间时，根据超声波在不同声阻抗界面的折射定律，工件中只有横波的存在。
　　吸声材料用来吸收晶片背面、斜块四周发散的噪声。
　　外壳起到支撑、保护、电磁屏蔽等作用。
　　插座为电信号接口，通过探头线连接到仪器。
　　斜探头折射角的大小通过 K值来标明。
　　斜探头的声束与探头表面倾斜，因此可用于检测直声束无法到达的部位、或者缺陷的方向与检测面之间存在夹角的区域。 两种类型性能的探头可满足绝大多数检测要求。
　　斜探头（大尺寸晶片）
　　*分普通前沿和短前沿两种。 *可根据客户需要定做其他规格的探头，详情请联系。

　　小型斜探头
　　微型斜探头
　　双晶斜探头
　　接收客户定制各种规格的双晶斜探头，定制时请告知频率、晶片大小、折射角或 K 值、焦点深度、前沿距离、外壳、接插头等指标要求。

　　CN2R-24
　　3

　　4

　　5

　　11

　　12

　　13

　　DL2R-（左图）；DL4R-3.（右图）
　　1

　　2

　　“P”通用型系列：用于需要高灵敏度与穿透力的通用检测场合。
　　“C”压电复合材料系列：具有高灵敏度，高带宽，高分辨力以及穿透力强的特点，用于粗晶、高衰减材料检测时，可获得非常好的检测效果。