OmniScan X4 128:128PR相控探伤仪
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在设置光栅扫查计划时,可以自行命名扫查轴,还可以创建相对于资产的基准参考点。这些真实世界的参考以及真实方向的校正,大大地方便了为报告创建直观的检测数据示意图的操作。
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